寬溫技術

簡介

工業級應用產品需承受比一般消費型產品更嚴苛的運作環境,如震盪衝擊相當普遍的軍事應用、長時間運作不間斷的車用領域,或是極端運作溫度的工業廠房。為因應嚴峻的運作環境,提高產品耐用度與可靠度是不二法門,將產品賦予寬溫技術則是當今工業級應用的基本要求。

寬溫技術提供嵌入式裝置,如Flash和DRAM記憶體模組,在-40℃ 到 85℃的溫度範圍內仍保有穩定的運作效能。創見的嵌入式解決方案提供通過寬溫技術測試的儲存裝置,展現可靠耐用的效能。

創見使用獨家研發的寬溫循環測試機進行產品溫度測試。檢測人員將Flash和DRAM記憶體模組置入此儀器中,經歷快速、急遽的溫度改變以檢驗裝置在極端溫度下的效能狀態。檢測狀況以LED信號燈顯示,未達標準的裝置會另外挑出,進行額外的檢測以排除問題。

創見遵循JEDEC所發佈的耐用性標準JESD218A: SSD Requirement and Endurance Test Method。為確保固態硬碟的耐用性和可靠性, JEDEC強調固態硬碟在特定工作負載和運作溫度下需達到一定的耐用性與可靠性指標,分別為功能性錯誤要求 (Functional Failure Requirement,FFR)1和無法修正位元錯誤率 (Uncorrectable Bit Error Rate,UBER)2,此兩項數值可衡量固態硬碟在讀寫過程中的錯誤值/比率。


規格 工作負載(供電) 資料保存(斷電) FFR UBER
消費級 40℃
8小時/天
30℃
1年
≦3% ≦10-15
企業級 55℃
24小時/天
40℃
3個月
≦3% ≦10-16
表一:固態硬碟規格與要求 來源:JESD218A

JEDEC 根據固態硬碟不同的工作負載,分成企業級(Enterprise)和消費級(Client)兩種不同規格,不同工作負載的固態硬碟其耐用性和可靠性有一定標準。創見採用的是消費級標準。表格中的檢測數值為一參考指標,使用者選擇產品時,可以知道儲存裝置在什麼樣的溫度下可以運行多長時間,資料保存期限為多久,進而選擇適用產品。

創見將寬溫技術納入許多系列產品,如固態硬碟、SD記憶卡和DRAM記憶體模組,同時提供不同儲存容量和規格尺寸以符合客戶多樣化的需求。

  • 1. 無法修正位元錯誤率 (Uncorrectable Bit Error Rate,UBER) 表示在測試時間間隔中,無法修正的位元錯誤數除以總傳輸位元數的值。
  • 2. 功能性錯誤要求 (Functional Failure Requirement,FFR)表示寫入過程中累計的功能性錯誤。

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